Ваш город:
Москва
Ваш город Москва?
ВЕЛМАС
  • 8-495-228-18-63
  • 8-800-250-18-63
  • Пишите нам через WhatsApp или Telegram и получайте мгновенный ответ в чате!

    +79269076620


    - Уточняйте цены на оборудование и услуги

    - Узнавайте о наличии товара на ближайшем складе

    - Запрашивайте информацию об актуальных акциях и спецпредложениях

0
Москва
Ваш город Москва?
Каталог товаров
Каталог товаров
Еще категории
Vion Plasma FIB позволяет проводить, как достаточно точные поперечные сечения, так и сечения огромных размеров – несколько сотен микрон, при этом за достаточно короткое время.
Полное описание
Производитель«FEI Company», США
Под заказ
Артикул: art25199:vionplasmafib
Цена от 19.09.2023, для уточнения актуальной стоимости просим связаться с менеджером.
Цена по запросу
-+Купить
Запросить КП
Запросить видеодемонстрацию прибора
  • Обзор
  • Характеристики
  • Отзывы0
«FEI Company», США

В отличие от электронных микроскопов, ионные обладают рядом уникальных преимуществ, открывающих новые особые способности и возможности для исследования и непосредственного взаимодействия с исследуемым образцом.

Уникальность ионных микроскопов заключается в том, что вместо традиционного источника пучка выступают не электроны, а ионы, которые, благодаря своей значительно большей массе и размеру, позволяют как сканировать область образца и получать изображение, так и при высоких токах и энергиях выбивают атомы с поверхности образца – тем самым изменяя топологию и раскрывая ранее недоступные области для анализа. Фактически, две модели, представленные FEI v400ace и Vion Plasma FIB так же являются растровыми сканирующими микроскопами но с иным источником сканирующего луча. В отличие от v400ace, в котором используется ионная пушка на основе ионов галлия (Ga+), позволяющих проводить прецизионные и чистые поперечные срезы (Cross Section), в Vion Plasma FIB используется более новая технология – плазменная ионная пушка (Plasma FIB) на основе ионов ксенона (Xe+). Благодаря данной технологии Vion Plasma FIB позволяет проводить, как достаточно точные поперечные сечения, так и сечения огромных размеров – несколько сотен микрон, при этом за достаточно короткое время.

Vion Plasma FIB позволяет проводить точную резку и травление с высокой скоростью. Обладает возможностью избирательного травления заданных областей образца и химического осаждения материала. Используемый источник плазмы обеспечивает 20 – 60 раз более высокие токи пучка, чем традиционные ионные микроскопы с использованием ионов галлия, сохраняя при этом все возможности использования низкого тока пучка. Кроме того, в камере могут быть введены различные газы, оказывающие влияние на взаимодействие пучка с поверхностью образца и вызывающие осаждение материала (изолятора или проводника).

Характеристики

Особенности
  • Повышение производительности по сравнению с ионными микроскопами с использованием ионов галлия: увеличение скорости травления более чем в 20 раз 
  • Быстрое и точное приготовление срезов позволяет исследовать скрытые дефекты образца 
  • Широкий диапазон токов пучка для травления и получения изображений 
  • Использование возможностей химического осаждения для защиты характерных особенностей поверхности
Характеристики электронной пушки
  • Ионная оптика 
  • Ионная колонна Sidewinder. 
  • Источник ионов на базе Xe+ 
  • Разрешение: Менее 25 нм 
  • Ускоряющее напряжение: От 2 кВ до 30 кВ 
  • Ток зонда от 1,5 пА до 1,3 мкА
Предметный столик
  • Тип: вцентрический столик, моторизованный по 5 осям 
  • Ход по осям X и Y: 150 х 150 мм 
  • Поворот: n x 360° 
  • Наклон: -10° …+60°
Производитель«FEI Company», США

Ионный микроскоп Vion Plasma FIB отзывы

About this product reviews yet. Be the first!

Ультразвуковые дефектоскопы Ручные спектрометры Портативные рентгеновские аппараты Ультразвуковые толщиномеры Твердомеры Толщиномеры покрытий

ВЕЛМАС
Москва
Ваш город Москва?
Каталог товаров