.png){kind=icon}
)).png){kind=icon}
Настольный сканирующий электронный микроскоп ZEM 20
- Обзор
- Характеристики
- Отзывы0
В микроскопе ZEM20 реализован режим низкого вакуума, облегчающий пробоподготовку для анализа непроводящих образцов. Вместо обычного столика с перемещением по XY в микроскоп может быть установлен пятиосевой моторизованный столик, позволяющий повернуть образец внутри вакуумной камеры под нужным углом, а дополнительная ИК-камера дает возможность контролировать процесс перемещения и наклона образца.В перспективе
может быть произведена замена источника электронов на гексаборид лантана (LaB6),что повысит качество получаемого изображения и многократно увеличит его срок службы.
Основные преимущества:
- разрешение и увеличение соответствуют большинству требований к тестированию образцов с помощью электронной микроскопии;
- продвинутые возможности анализа элементного состава;
- высокая помехоустойчивость к вибрации и магнитным полям, нет необходимости в специальной среде для установки;
- простота в эксплуатации, быстрая загрузка и замена образца, а также возможность дооснащения специальными столиками для испытаний;
- низкая стоимость и простая замена источника электронов – вольфрамовой нити со сроком работы до 100 часов.
Технические характеристики
| Тип микроскопа | Сканирующий |
| Характеристики электронной пушки | |
| Тип катода | Вольфрамовая нить |
| Максимальное разрешение, нм | 5 |
| Максимальное увеличение, х | 200000 |
| Ускоряющее напряжение, кВ | 20 |
| Детекторы | |
| Обратно-рассеянные электроны | Опция |
| ЭДС | Опция |
| Вторичные электроны | Опция |
| Предметный столик | |
| Ход по осям X и Y, мм | 50 х 50 |
| Регулировка по Z | Ручная, Моторизованная |
| Размер предметного столика, мм | Ø 50 |
| Максимальный размер образца, мм | 80x100 |
| Максимальная высота образца, мм | 75 |
| Время загрузки образца | |
| До получения оптического изображения, с | 5 |
| До получения изображения в электронах, с | 90 |
| Оптическая цифровая навигационная камера | Цветное изображение |
| Увеличение, х | 1 |
| Разрешение изображения, пикс. | 2048 × 2048 |
| Формат изображения | JPEG/TIFF/BMP |
| Сохранение данных | Флеш-карта памяти USB 2.0/ Сетевой диск/ Вспомогательный компьютер |
| Активная площадь детектора, мм² | 30 |
| Окно детектора | |
| Полимерное окно | Наличие |
| Определение элементов от B (бор) до Cf (калифорний) | Наличие |
| Энергетическое разрешение, эВ Mn Kα | 129 |
| Цифровой процессор | |
| Многоканальный анализатор, количество каналов | 2048 |
| Скорость считывания, имп/сек | 1 000 000 |
| Дискретность, эВ/канал | 10 |
| Способы элементного анализа | |
| В точке | Наличие |
| По области | Наличие |
| По линии и картирование по элементам | Наличие |
| Автоматизированный анализ частиц и включений | Опция |
| Состав поставки | Модуль получения изображений/ Рабочая станция/ Монитор 24 дюйма/ Мембранный форвакуумный насос/ Источник питания |
| Прикладное программное обеспечение | Опция |
| Габариты и вес основного блока | |
| Размер (Ш × Г × В), мм | 370 × 656 × 633 |
| Вес, кг | 75 |
| Требования к установке | |
| Температура, °С | 15–30 |
| Влажность макс, % | 80 |
| Электропитание, В | 110–240 В, одна фаза, 50/60 Гц |
| Потребляемая мощность, Вт | 400 |
| Рекомендованный размер стола для установки прибора, мм | 1200 × 750 |
| Допустимая нагрузка на стол, не менее, кг | 100 |
| Внесен в госреестр | Не внесен |
| Производитель | «ZepTools», Китай |
Настольный сканирующий электронный микроскоп ZEM 20 отзывы
Ультразвуковые дефектоскопы Ручные спектрометры Портативные рентгеновские аппараты Ультразвуковые толщиномеры Твердомеры Толщиномеры покрытий
